中文名称 电子探针X射线显微分析仪

英文名称 Electron Probe X-ray Micro-Analyzer

英文简称

资产仪器编号 151117000-744599-2013-12240

技术指标 1. 电子光学系统　二次电子像分辨率：5nm　 背散射电子像分辨率：20nm（拓扑像、成分像）, 成分分辨足以清晰分辨α / β黄铜　电子枪：LaB6发射枪，预对中灯丝　加速电压：0 ～ 30kV　 束流范围：10-5 ～ 10-12A　图像放大倍数：×40～×300,000，连续可调； 2. 波谱系统　分析元素：5B - 92U　　分析精度：好于1%(主元素, 含量＞5%)和5%(次要元素, 含量～1%)　分析速度：自动全元素定性分析时间≤60秒，可以自动识别0.1 wt%以上的元素

规格 JXA-8230

型号

制造商 日本电子株式会社

可对外开放时间

原值 377.55

产地 日本

检测项目 分析测试

送样检测费

预约费用

购买年份

校准项目

检定校准机构

自检/校准规范名称

自检/校准规范编号

工作状态

仪器负责人 朱爱美

仪器负责人联系方式 0532-88967446  dzsys@fio.org.cn

安放地点 山东省青岛市崂山区仙霞岭路6号

所在实验室 0

功能 运用电子所形成的探测针（细电子束）作为X射线的激发源来进行显微X射线光谱分析

应用范围 化学,地球科学

主要附件

收费标准

检测说明 自然资源部第一海洋研究所常年接收用户申请，申请对象为在职科研人员（需具备相应的海洋监检测人员资质）。用户可提交申请书，打印一份盖单位公章后寄至：青岛市崂山区仙霞岭路6号 用户办公室收（邮编：266061

备注

图片

预约开放 开放

送样开放 开放

故障期间开放预约 不开放

个人预约限制 91

课题组预约限制 91

上机取消 0

院内闲时 0.00

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培训注意事项

培训申请提醒